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掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的高精度觀察手段，它利用聚焦的高能電子束來掃描樣品，通過收集和分析光束與物質相互作用產生的各種物理信息，如二次電子、背散射電子等，將這些信息轉換為圖像，從而實現對物質微觀形貌的表征。